2025/08/27


当社は国立研究開発法人 新エネルギー・産業技術総合開発機構(NEDO)が取り組んでいる
「半導体製造装置の高度化に向けた開発」に関する委託事業をもとに、
「三次元積層関連の革新的な後工程用露光装置の研究開発」を進めてまいりました。

このたび、本事業で開発した技術を活用し、高解像・高精度なダイレクト露光装置「SDiシリーズ」
を製品化しましたのでリリースするとともに受注を開始いたします。

本装置はフォトマスクを使用せず、半導体基板に回路パターンを直接焼き付ける
ダイレクト露光装置であり、当社独自の技術を進化・拡張して開発しました。
とりわけAI半導体を実装する先端パッケージの量産に最適な装置として、
その製造基盤の強化に貢献してまいります。

プレスリリースはこちら:オーク製作所が高解像・高精度なダイレクト露光装置


2025/07/28


暑中お見舞い申し上げます。

弊社では、誠に勝手ながら、夏季休業を以下の期間とさせて頂きますのでご案内申し上げます。
休業期間中は何かとご迷惑をお掛けすることと存じますが、何卒よろしくお願い申し上げます。

夏季休業期間  2025年8月09日(土) ~ 8月17日(日)


2025/07/20


当社は国立研究開発法人産業技術総合研究所(茨城県つくば市、以下 産総研)の
技術支援の下、2025年7月20日付で国内初となるUV-C(深紫外線)領域における
JCSS(計量法校正事業者登録制度: Japan Calibration Service System)登録事業者に登録されました。

当社ではこれまで産業向け紫外線放射照度計で培ってきたノウハウと産総研による
技術支援を受けることにより、2023年9月にUV-A領域のJCSS校正を国内で初めて実現、
更に研鑽を重ねることにより、このたびUV-C領域まで拡張することが出来ました。
これにより、わが社は長年の紫外線業界の懸案であったUV-C域の紫外線の放射量管理に
対する課題解決に寄与いたします。

CRS 18



JCSS登録事業者の情報 [nite]:
https://www.nite.go.jp/iajapan/jcss/information/info_lab_202507.html
CRS 18

国際MRA対応JCSS認定証 [nite]:
https://www.nite.go.jp/iajapan/jcss/labsearch/pdf/D0351M.pdf
CRS 18

プレスリリースはこちら: 250718 JCSS UV-C.pdf





2025/06/17


「諏訪圏工業メッセ 2025」に出展いたします。
皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

【開催概要】
◇会 期 :2025年6月26日(木)~28日(土)
◇会 場 :岡谷市民総合体育館(長野県岡谷市南宮3-2-1)
◇場 所 :ブース番号・東体育館227番
◇公式HP:https://suwamesse.jp/
◇会場へのアクセス・駐車場 :https://suwamesse.jp/access
◇来場事前登録 :https://www.tenjikai-uketsuke.com/form/suwamesse2025/

【出展製品】
◇各種紫外線照射照度計
  JCSS(IEC/ISO 17025)校正に対応したUV-LED照度計、新型の一体型照度計、
 装置組込用照度計も展示いたします。





2025/05/29


株式会社オーク製作所(本社:東京都町田市、代表取締役会長 橋本典夫)は、
株式会社ブイ・テクノロジー(本社:神奈川県横浜市、代表取締役兼社長執行役員 杉本重人)、
株式会社EORIC(本社:東京都千代田区、代表取締役CEO 李棏)、株式会社LE-TECHNOLOGY
(本社:東京都千代田区、代表取締役CEO 李棏)及び当社元従業員らに対し、特許権の移転登録請求、
不正競争防止法に基づく被告ら製品の譲渡等の差止請求等を求める訴訟を、
2025年5月27日に東京地方裁判所に提起しましたのでお知らせ致します。